为了了解对称双缺陷光子晶体的传输特性，采用传输矩阵法进行了数值模拟研究。当两缺陷层中间的介质层数目大于缺陷两外侧介质层总数时，在禁带中只出现单一的缺陷模，且其透射率随它们的差异的增大而迅速减小;但当中间的介质层数目小于两外侧介质层总数时，在禁带中将会出现两个透射率为1的缺陷模，且两缺陷模的间距随它们的差异的增大而增大。结果表明，缺陷层的位置对缺陷模的影响较大，要使缺陷层中的局域电场得到有效提高，必须使缺陷层靠近光子晶体的正中心。